Michell和殼牌合作黑斑技術烴露點儀
殼牌率*開展了針對烴露點的研究工作,冷鏡技術的露點儀被確定為測量烴露點的佳技術。由于密析爾在冷鏡技術方面享有的盛譽,殼牌邀請密析爾公司參與并共同發(fā)展出了專利的黑斑術。目前為止,黑斑技術仍然是烴露點測量領域精度高(+/-0.5C)、穩(wěn)定性好的技術。